Analiza comparativă a metodelor de testare a dispozitivelor de memorie digitală

Abstract

În lucrarea dată sunt prezentate metodele de testare a dispozitivelor de memorie digitală. Este reprezentată analiza comparativă a metodelor clasice de testare, testelor march și testelor pseudo-inelare. Sunt evidențiate parametrii principali ale testelor: complexitatea algoritmică și hardware.