IRTUM – Institutional Repository of the Technical University of Moldova
Тестирование электронных систем: Гид к лабораторным работам. Часть 1
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
| dc.contributor.author | ГРИЦКОВ, С. | |
| dc.contributor.author | ЛАЗЭР, Д. | |
| dc.date.accessioned | 2021-06-01T02:19:56Z | |
| dc.date.available | 2021-06-01T02:19:56Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.citation | ГРИЦКОВ, С., ЛАЗЭР, Д. Тестирование электронных систем: Гид к лабораторным работам. Часть 1. Технический Университет Молдовы, Фак. Инженерии и Менеджмента в Электронике и Телекоммуникациях, Каф. Электронных Систем и Устройств. Chişinău: Tehnica-UTM, 2016. 35 p. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://repository.utm.md/handle/5014/15414 | |
| dc.description | Fişierul ataşat conţine: Introducere, Cuprins, Bibliografie. Textul integral al publicației poate fi accesat pe site-ul http://library.utm.md. Accesul prin logare este valabil pentru studenţi, masteranzi, doctoranzi şi cadre didactice UTM. | en_US |
| dc.description.abstract | Данный гид к лабораторным работам предназначен для приобретения навыков по составлению тестов для цифровых комбинационных схем и устройств цифровой памяти. Практически тестирование выполняется на основе микросхем с программируемой логикой при помощи языкового описания на языке VHDL и в среде Schematic. Представленные лабораторные работы направлены на закрепление знаний в области тестирования цифровых устройств, а работа с отладочными платами направлена на приобретение практических навыков в данной области. Гид рекомендован студентам, мастерантам и докторантам соответствующего профиля и отражает современные технологии в тестировании цифровых электронных систем. | en_US |
| dc.language.iso | ru | en_US |
| dc.publisher | Universitatea Tehnică a Moldovei | en_US |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States | * |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | * |
| dc.subject | электронные системы | en_US |
| dc.subject | цифровые комбинационные схемы | en_US |
| dc.subject | цифровая память | en_US |
| dc.title | Тестирование электронных систем: Гид к лабораторным работам. Часть 1 | en_US |
| dc.type | Learning Object | en_US |
Files in this item
The following license files are associated with this item:
This item appears in the following Collection(s)
Except where otherwise noted, this item's license is described as Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States