Autotestarea pseudoinelară a microcontrolerelor nanosatelitului SATUM

GRIŢCOV, Serghei; GHINCUL, Alexandru; BODEAN, Ghenadie

Home
→
Facultatea Electronică şi Telecomunicaţii
→
Conferinţa Internaţională "Telecomunicaţii, Electronică şi Informatică" - ICTEI
→
2012
→
View Item

dc.contributor.author	GRIŢCOV, Serghei
dc.contributor.author	GHINCUL, Alexandru
dc.contributor.author	BODEAN, Ghenadie
dc.date.accessioned	2019-12-04T13:35:00Z
dc.date.available	2019-12-04T13:35:00Z
dc.date.issued	2012
dc.identifier.citation	GRIŢCOV, Serghei, GHINCUL, Alexandru, BODEAN, Ghenadie. Autotestarea pseudoinelară a microcontrolerelor nanosatelitului SATUM. In: Telecommunication, Electronics and Informatics - ICTEI 2012: proc. of the 4th intern. conf., Technical University of Moldova, May 17-20, 2012. Chișinău, 2012, Vol. 2, pp. 260-267. ISBN 978-9975-45-082-9.	en_US
dc.identifier.isbn	978-9975-45-082-9
dc.identifier.uri	http://repository.utm.md/handle/5014/7254
dc.description.abstract	În lucrare se analizează autotestarea memoriei incorporate a microcontrolerelor din familia MSP430 bazată pe metoda de testare pseudo-inelară a dispozitivelor de memorie. Sunt expuse exemple de programe FLASH şi SRAM de testare a memoriilor microcontrolerului. Sunt prezentate programe-teste pentru determinarea defectărilor constante ale celulelor memoriei şi defectărilor legate de înregistrarea (intrarea) multiplă în memorie la viteza maximă.	en_US
dc.language.iso	ro	en_US
dc.publisher	Tehnica UTM	en_US
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/	*
dc.subject	autotestare pseudoinelară	en_US
dc.subject	memorii operative	en_US
dc.subject	microcotroler RISC	en_US
dc.title	Autotestarea pseudoinelară a microcontrolerelor nanosatelitului SATUM	en_US
dc.type	Article	en_US