Modelizarea defectelor circuitelor integrate analogice

Abstract

Densitatea integrării microelectronice este limitată de fiabilitatea produsului fabricat, pentru o densitate dată a circuitului. Reguli de proiectare, tensiunea de lucuru și vitezele maxime de comutatre trebuie astfel alese, încât să asigure funcționarea circuitului de-a lungul întregii sale durate de viață. De aceea, pentru a determina performanța de vârf a unui set dat de constrângeri ale proiectării, trebuie modelată fiabilitatea circuitului, pentru condițiile specifice de funcționare. Proiectanții abordează mai degrabă procesul de degradare, pentru a fi siguri că nu există părți inerent vulnerabile ale cipului. Utilizatorii sau proiectanții unui sistem abordează teoria defectării și a ratelor de defectare pentru calificarea fiabilității produsului, presupunând că toate defectările vor fi întâmplătoare și că circuitele nu au un mod dominant de defectare din proiectare.