Procedeu de măsurare a secţiunii unui fir conductor în izolaţie în procesul de turnare

Abstract

Invenţia se referă la tehnica de măsurare şi poate fi utilizată la turnarea firelor conductoare sau semiconductoare în izolaţie. Procedeul de măsurare a secţiunii unui fir conductor în izolaţie în procesul de turnare, de exemplu, a unui microfir conductor în izolaţie de sticlă, constă în extinderea acestuia dintr-o preformă de metal introdusă într-un tub din material izolator în stare de suspensie cu un câmp electromagnetic de frecvenţă înaltă şi bobinarea microfirului turnat pe o carcasă metalică, formând o bobină cu microfir turnat. Măsurarea secţiunii microfi-rului se efectuează prin compensarea rezistenţei echivalente electrice Zx a bobinei cu microfir turnat cu o rezistenţă echivalentă electrică Z0 a unei bobine cu microfir etalon, care se conectează în paralel la intrarea diferenţială a unui amplificator operaţional şi în serie cu o ramură în serie formată din porţiunea de microfir măsurat şi bobina cu microfir turnat. Această ramură este conectată la intrarea neinversoare a amplificatorului operaţional. Circuitul în serie format din bobina cu microfir etalon şi ramura în serie formată din porţiunea de microfir măsurat şi bobina cu microfir turnat se uneşte la o sursă de curent sinusoidal de valoare impusă, unde curentul i(t) de la sursă, trecând prin circuitul în serie, formează căderi de tensiuni Ux=Zxi(t) pe bobina cu microfir turnat, U0=Z0i(t) pe bobina cu microfir etalon şi Ur=i(t)rl pe porţiunea de microfir măsurat. Tensiunea U0 se defazează la p prin amplificatorul operaţional şi se repetă după valoare la ieşirea lui, unde se însumează cu suma de tensiuni Ux+Ur , formând tensiunea sumară măsurată US=-U0+Ur+Ux=i(t)[-Z0+rl+Zx], care atunci când Zx=Z0, i(t)=const şi l=const este egală cu i(t)rl, care la rândul său este proporţională cu rezistenţa r şi invers proporţională cu secţiunea de microfir etalon Ur ~ S0 -1.

The invention relates to the measurement technology and can be used for casting insulated conductors or semiconductors. The process for measuring the section of an insulated wire in the casting process, for example of a glass-insulated microwire, consists in its drawing from a metal preform introduced into a tube of insulating material in suspension state with a high-frequency electromagnetic field and reeling of the cast microwire on a metal carcass, forming a bobbin with cast microwire. Measuring of the microwire section is carried out by compensating the equivalent electrical resistance Zx of the bobbin with cast microwire for the equivalent electrical resistance Z0 of the bobbin with standard microwire, which is connected in parallel to the differential input of an operational amplifier and in series with a branch consisting of the connected in series measured microwire portion and bobbin with cast microwire. Said branch is connected to the noninverting input of the operational amplifier. The series circuit, consisting of the bobbin with standard microwire and the series branch, consisting of the measured microwire portion and the bobbin with cast microwire, is connected to a sinusoidal current source of predetermined value, where the current i(t) from the source, passing through the series circuit, forms voltage drops Ux=Zxi(t) across the bobbin with cast microwire, U0=Z0i(t) across the bobbin with standard microwire and Ur=i(t)rl across the measured microwire portion. The voltage U0 is divided by p through the operational amplifier and is repeated by value at its output, where it is summed up with the sum of voltages Ux+Ur , forming the measured total voltage US=- U0+Ur+Ux=i(t)[-Z0+rl+Zx], which when Zx=Z0, i(t)=const and l=const is equal to i(t)rl, which, in its turn, is proportional to the resistance r and inversely proportional to the section of the standard microwire Ur ~ S0 -1.