Dispozitiv de măsurare a parametrilor senzorilor pe bază de oxizi semiconductori micro- şi nanostructuraţi

Abstract

Invenţia se referă la domeniul tehnicii de măsurare şi poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi. Dispozitivul de măsurare a parametrilor senzorilor pe bază de oxizi semiconductori micro- şi nanostructuraţi include o sursă de tensiune de referinţă (Uref), tensiunea căreia se aplică la intrarea unuia din convertorii analogic-digitali (ADC) ai unui microcontroler (MCU) printr-un amplificator operaţional, şi care este conectată în serie cu o nanostructură cercetată (Rx) şi un rezistor suplimentar (R0), iar căderea de tensiune de pe rezistorul suplimentar (R0) se aplică la intra-rea unui al doilea convertor analogic-digital (ADC) al microcontrolerului (MCU) prin cel de-al doilea amplificator operaţional. Ieşirea microcontrolerului (MCU) este conectată la un ecran pentru afişarea rezultatelor obţinute.

The invention relates to the field of measuring equipment and can be used in measuring devices that use nanosensors based on nanostructured semiconductor oxides. The device for measuring the parameters of sensors based on micro- and nanostructured semiconductor oxides comprises a reference voltage source (Uref), which voltage is applied to the input of one of the analog-to-digital converters (ADC) of a microcontroller (MCU) via an operational amplifier, and which is connected in series to the investigated nanostructure (Rx) and an additional resistor (R0), and the voltage drop across the resistor (R0) is applied to the input of a second analog-to-digital converter (ADC) of the microcontroller (MCU) via the second operational amplifier. The output of the microcontroller (MCU) is connected to a screen for displaying the results obtained.