IRTUM – Institutional Repository of the Technical University of Moldova

Browsing Revista ştiințifică «Meridian Ingineresc» by Subject "fiabilitatea încapsulărilor microelectronice"

Browsing Revista ştiințifică «Meridian Ingineresc» by Subject "fiabilitatea încapsulărilor microelectronice"

Sort by: Order: Results:

  • BĂJENESCU, Titu-Marius I. (Tehnica UTM, 2017)
    Defectările capsulelor au evoluat în timp; încapsulările actuale fac apel la o mulțime de materiale diferite, iar unele din cele mai mari probleme au avut loc datorită coeficienților de expansiune în interiorul materialelor. ...

Search DSpace


Browse

My Account