Analiza simulatoarelor metrologice de impedanţă prin metoda grafurilor orientate

Abstract

Simulatoarele metrologice de impedanţă (SIM) în coordonate Carteziene prezintă circuite, care asigură reproducerea impedanţelor de referinţă cu caracter diferit, utilizate la măsurarea impedanţelor. Impedanţa reprodusă de SIM se exprimă în coordonate Carteziene cu asigurarea reglării independente a componentelor activă şi reactivă. Problema propusă spre soluţionare este determinarea coeficientului de transfer din punctul A în punctul B al grafului orientat al circuitului SIM cu precizarea că semnalul nodal A este curentul Ii, iar semnalul nodal B - tensiunea Us.