Оценка качества псевдо-кольцевого тестирования устройств оперативной памяти

ГРИЦКОВ, Сергей; СОРОКИН, Герман

DSpace Home
→
Facultatea Inginerie Economică și Business
→
Articole ► Conferinţa tehnico-ştiinţifică a colaboratorilor, doctoranzilor şi studenţilor (2010-2017)
→
View Item

dc.contributor.author	ГРИЦКОВ, Сергей
dc.contributor.author	СОРОКИН, Герман
dc.date.accessioned	2019-03-21T10:26:49Z
dc.date.available	2019-03-21T10:26:49Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.citation	ГРИЦКОВ, Сергей, СОРОКИН, Герман. Оценка качества псевдо-кольцевого тестирования устройств оперативной памяти In: Conferința Tehnico-Științifică a Colaboratorilor, Doctoranzilor și Studenților, Universitatea Tehnică a Moldovei, 15-17 noiembrie, 2012. Chișinău, 2013, vol. 1, pp. 40-43. ISBN 978-9975-45-249-6. ISBN 978-9975-45-250-2 (Vol.1).	en_US
dc.identifier.isbn	978-9975-45-249-6
dc.identifier.uri	http://repository.utm.md/handle/5014/1157
dc.description.abstract	The paper deals with the determination of the quality of pseudo-ring testing estimated by a simulation based on FPGA of pseudo-ring tests as well as single and multiple stack-at faults of memory devices. Is considered the transition from simulation based on the software tools to modeling based on the hardware ones.	en_US
dc.language.iso	ru	en_US
dc.publisher	Tehnica UTM	en_US
dc.rights	Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/	*
dc.subject	псевдо-кольцевое тестирование	en_US
dc.subject	качество тестирования	en_US
dc.subject	константные неисправности	en_US
dc.subject	система моделирования	en_US
dc.title	Оценка качества псевдо-кольцевого тестирования устройств оперативной памяти	en_US
dc.type	Article	en_US