DSpace Repository

Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor

Show simple item record

dc.contributor Universitatea Tehnică a Moldovei
dc.contributor.author VERJBIŢKI, Valeri
dc.contributor.author LUPAN, Oleg
dc.contributor.author RAILEAN, Serghei
dc.date.accessioned 2021-04-28T09:14:38Z
dc.date.available 2021-04-28T09:14:38Z
dc.date.issued 2018-07-31
dc.identifier.citation VERJBIŢKI, Valeri, LUPAN, Oleg, RAILEAN, Serghei. Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor. Brevet MD 1269, CIB G01R 31/26, G01R 31/2, B82Y 35/00. Universitatea Tehnică a Moldovei. Nr. depozit: s 2017 0139. Data depozit: 2017.12.27. Data public.: 2018.07.31. In: BOPI. 2018, nr. 8. en_US
dc.identifier.other Nr. depozit: s 2017 0139
dc.identifier.uri http://www.db.agepi.md/Inventions/details/s%202017%200139
dc.identifier.uri http://81.180.74.21:8080/xmlui/handle/123456789/14566
dc.description.abstract Invenția se referă la domeniul tehnicii de măsurare și poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi. Dispozitivul de măsurare a rezistenței senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaților include o sursă de tensiune de referință reglabilă Uref, conectată la ieșirea unui microcontroler și unită în serie cu senzorul nanostructurat cercetat Rx și un rezistor de referință Ro, punctul de legătură al căruia cu senzorul cercetat Rx este conectat la intrarea microcontrolerului, totodată circuitele comune al rezistorului de referință Ro, sursei de tensiune de referință Uref și ale microcontrolerului sunt unite la pământ. en_US
dc.description.abstract The invention relates to the field of measuring technology and can be used in measuring instruments that use sensors based on nanostructured semiconductor oxides. The device for measuring the resistance of a sensor based on nanostructured semiconductor oxides in the range of the order of microwatts comprises an adjustable reference voltage source Uref, connected to the output of a microcontroller and connected in series to the investigated nanostructured sensor Rx and a reference resistor Ro, the connection point of which to the investigated sensor Rx is connected to the input of the microcontroller, at the same time the common circuits of the reference resistor Ro, the reference voltage source Uref and the microcontroller are connected to ground. en_US
dc.language.iso ro en_US
dc.publisher Agenţia de Stat pentru Proprietatea Intelectuală a Republicii Moldova en_US
dc.rights Brevet valabil. Data expirării brevetului: 2023.12.27. en_US
dc.rights Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ *
dc.subject invenţii en_US
dc.subject brevete de invenţie en_US
dc.subject dispozitive de măsurare en_US
dc.subject rezistenţă en_US
dc.subject senzori en_US
dc.subject oxizi semiconductori en_US
dc.subject semiconductori nanostructuraţi en_US
dc.subject devices for measuring en_US
dc.subject sensors en_US
dc.subject nanostructured semiconductors en_US
dc.subject semiconductor oxides en_US
dc.subject semiconductors en_US
dc.subject.classification IPC: G01R 31/26 (2006.01) en_US
dc.subject.classification IPC: G01R 31/27 (2006.01)
dc.subject.classification IPC: B82Y 35/00 (2011.01)
dc.title Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor en_US
dc.type Patent en_US


Files in this item

The following license files are associated with this item:

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Brevet valabil. Data expirării brevetului: 2023.12.27. Except where otherwise noted, this item's license is described as Brevet valabil. Data expirării brevetului: 2023.12.27.

Search DSpace


Advanced Search

Browse

My Account